新品速遞 | 德國(guó)斯派克推出新一代 SPECTRO xSORT 手持式熒光（ED-XRF）光譜儀

新版SPECTRO xSORT手持式熒光（ED-XRF）光譜儀是德國(guó)斯派克分析儀器公司結(jié)合自身對(duì)行業(yè)應(yīng)用的透徹領(lǐng)悟和現(xiàn)場(chǎng)金屬測(cè)量領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn)，厚積薄發(fā)打造的一款創(chuàng)新型便攜式熒光光譜分析儀。集一系列實(shí)用功能和創(chuàng)新設(shè)計(jì)為一身，在大幅提高用戶的分析速度、保證易用性和操作便利性的同時(shí)，保持了德國(guó)制造的優(yōu)異分析性能。

手持式土壤分析光譜儀 德國(guó)斯派克

手持式能量色散型X-射線熒光（EDXRF）光譜儀無(wú)需進(jìn)行復(fù)雜的樣品制備，對(duì)復(fù)雜基體的環(huán)境類(lèi)樣本提供非?？焖僦苯拥脑販y(cè)量和光譜化學(xué)成分分析，SPECTRO xSORT光譜儀可以在極短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到非常低的檢測(cè)下限，因此在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中可以快速提供實(shí)驗(yàn)室等級(jí)的測(cè)試結(jié)果。

手持式XRF涂層測(cè)厚儀 德國(guó)斯派克

德國(guó)斯派克手持式涂層光譜儀應(yīng)用于包括Cr+純化，耐指紋，磷化膜等化學(xué)處理膜層厚度測(cè)度；模具鋼、鎢鋼等材料表面釩(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層或鈦(Ti)鍍層等金屬鍍層膜厚測(cè)試。

手持式土壤光譜分析儀 XRF 德國(guó)斯派克

手持式土壤光譜分析儀 xSORT具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀，可滿足多種金屬基體材料以及土壤，塑膠，礦石等多種復(fù)雜材料的光譜化學(xué)成分分析需要。以其無(wú)與倫比的分析速度，媲美實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析精度和便于操作的特點(diǎn)為同類(lèi)型手持式光譜分析儀設(shè)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。

RoHS分析X射線熒光光譜儀租賃 二手光譜儀買(mǎi)賣(mài)

RoHS分析X射線熒光光譜儀租賃 配置：德國(guó)斯派克X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀選配的樣品測(cè)試吊艙可將儀器轉(zhuǎn)化為臺(tái)式EDXRF，在保障任何樣品測(cè)試輻射安全的同時(shí)，極大的提升設(shè)備對(duì)極微小樣品測(cè)試能力并取得更低的檢測(cè)下限。

VHG磨損金屬套標(biāo)

美國(guó)VHG公司是世界最大的生產(chǎn)金屬油基和水基標(biāo)準(zhǔn)樣品的公司之一，為分析化學(xué)領(lǐng)域提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和服務(wù)。VHG Labs的所有產(chǎn)品均符合ASTM、NIST 等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),通過(guò)ISO9001:2000和ISO/IEC17025:2005認(rèn)證,所有產(chǎn)品配有全面分析證明書(shū)（Certificate Of Analysis，COA）。VHG Labs 的金屬有機(jī)標(biāo)樣通過(guò) ICP、AA、RDE、DC、XRF 等儀器來(lái)分析測(cè)定油和有機(jī)溶劑中的金屬。另外，還提供符合 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)的含硫、氯和金屬標(biāo)樣用于石油類(lèi)產(chǎn)品的檢測(cè)。

有機(jī)濃縮物單元素標(biāo)油標(biāo)樣

無(wú)硫的金屬有機(jī)濃縮物尤其適用于X熒光光譜儀(XRF)。他們可用來(lái)制備單元素或多元素標(biāo)樣，可單獨(dú) 使用，也可成套使用。需要做硫和金屬的同步分析時(shí)，可在標(biāo)樣中加入硫。每瓶標(biāo)樣都會(huì)附帶一份分 析證書(shū)，證書(shū)上會(huì)表明該標(biāo)樣的濃度和其他痕量雜質(zhì)。

日立EA1000AIII 臺(tái)式X射線熒光光譜儀，臺(tái)式XRF熒光分析儀

EA1000AIII旨在加速和簡(jiǎn)化生產(chǎn)環(huán)境中的RoHS測(cè)試。該分析儀有助于滿足當(dāng)前的RoHS、EN71和無(wú)鹵素指令，并允許隨著指令的變化更新物質(zhì)控制標(biāo)準(zhǔn)。

日立EA1280 臺(tái)式熒光光譜儀，XRF分析儀

日立EA1280 臺(tái)式熒光光譜儀適用于RoHS篩查和通用分析的高性能多用途XRF分析儀。

日立X-Strata920 鍍層測(cè)厚儀，臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀

X-Strata920 是一款高精度臺(tái)式 XRF 鍍層測(cè)厚儀，具有多種選擇，可容納多種類(lèi)型的樣品。該分析儀非常適合測(cè)量各種基材上的涂層，適合用于確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析

日立FT110A臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀，鋅層測(cè)厚儀

FT110A 是一款臺(tái)式 XRF 分析儀，旨在應(yīng)對(duì)生產(chǎn)中鍍層分析的挑戰(zhàn)。強(qiáng)大的 X 射線熒光技術(shù)與自動(dòng)定位功能相結(jié)合，有助于提高電鍍車(chē)間的生產(chǎn)力，同時(shí)確保組件符合嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。

手持式XRF涂層測(cè)厚儀德國(guó)斯派克

德國(guó)斯派克手持式涂層光譜儀應(yīng)用于包括Cr+純化，耐指紋，磷化膜等化學(xué)處理膜層厚度測(cè)度；模具鋼、鎢鋼等材料表面釩(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層或鈦(Ti)鍍層等金屬鍍層膜厚測(cè)試。

德國(guó)斯派克能量色散x射線熒光光譜儀 SPECTRO XEPOS

斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術(shù)的飛躍。它提供突破性的進(jìn)步multi-elemental分析專(zhuān)業(yè),小,微量元素濃度。新發(fā)展激勵(lì)和檢測(cè)提供出色的靈敏度和檢測(cè)限制收益顯著的精密度和準(zhǔn)確度。

德國(guó)斯派克小型臺(tái)式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀 SPECTRO xSORT

德國(guó)斯派克X射線熒光光譜儀 ROHS分析儀 SPECTRO xSORT-BT 選配的樣品測(cè)試吊艙可將儀器轉(zhuǎn)化為臺(tái)式EDXRF，在保障任何樣品測(cè)試輻射安全的同時(shí)，極大的提升設(shè)備對(duì)極微小樣品測(cè)試能力并取得更低的檢測(cè)下限

實(shí)驗(yàn)室快速分析：偏振XRF光譜儀

斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術(shù)的飛躍。它提供突破性的進(jìn)步multi-elemental分析專(zhuān)業(yè),小,微量元素濃度。新發(fā)展激勵(lì)和檢測(cè)提供出色的靈敏度和檢測(cè)限制收益顯著的精密度和準(zhǔn)確度。

德國(guó)斯派克偏振能量色散X熒光分析儀 SPECTROCUBE ED-XRF

德國(guó)斯派克小點(diǎn)能量色散X射線熒光（ED-XRF）光譜儀 貴金屬檢測(cè)儀

元素分析的準(zhǔn)確性往往非常重要——尤其是在評(píng)估貴金屬時(shí)。對(duì)其他應(yīng)用來(lái)說(shuō)，速度甚至更加重要：高樣品處理量的檢測(cè)中心要求快速且準(zhǔn)確的分析。此外，所有用戶都希望分析儀堅(jiān)固、方便和容易操作，配備實(shí)用軟件，結(jié)果可輕松傳送到實(shí)驗(yàn)室網(wǎng)絡(luò)。在處理貴金屬時(shí)，用戶當(dāng)然也很贊賞非破壞性取樣。

手持光譜儀在不銹鋼生產(chǎn)線中的檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

不銹鋼廣泛應(yīng)用于建筑、機(jī)械、化工、醫(yī)療、餐具等行業(yè)， 材料種類(lèi)繁多（如304、316、430、2205等）， 而它們之間的鉻（Cr）、鎳（Ni）、鉬（Mo）含量差異往往僅有幾個(gè)百分點(diǎn)。 在不銹鋼生產(chǎn)線或來(lái)料檢驗(yàn)中， 如果不能及時(shí)、準(zhǔn)確地區(qū)分這些牌號(hào)， 不僅可能導(dǎo)致混料、焊接失效或產(chǎn)品不合格， 還會(huì)造成大批次返工與原料浪費(fèi)。 因此，越來(lái)越多的不銹鋼廠、加工廠與回收企業(yè)， 開(kāi)始引入手持式光譜儀（Handheld XRF）來(lái)進(jìn)行快速現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

手持光譜儀檢測(cè)鋁、銅、鎂合金的最佳方案

隨著新能源汽車(chē)、航空航天、3C電子等行業(yè)的快速發(fā)展，鋁、銅、鎂等輕合金材料的應(yīng)用比例越來(lái)越高。 這些材料雖輕質(zhì)高強(qiáng)，但在生產(chǎn)和回收過(guò)程中，成分控制極為關(guān)鍵。稍有偏差，就可能導(dǎo)致焊接性能差、硬度異常或材料報(bào)廢。 傳統(tǒng)檢測(cè)方式如ICP或化學(xué)分析雖精準(zhǔn)，但操作繁瑣、成本高昂、不適合現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。 于是，越來(lái)越多的工廠選擇使用便攜式手持光譜儀（ED-XRF技術(shù)），實(shí)現(xiàn)快速、無(wú)損的合金成分檢測(cè)。

ED-XRF光譜儀原理詳解

ED-XRF（Energy Dispersive X-Ray Fluorescence，能量色散X射線熒光光譜）光譜儀是一種利用X射線激發(fā)樣品原子發(fā)射特征熒光的分析設(shè)備。 當(dāng)高能X射線照射到樣品表面時(shí)，樣品內(nèi)部的原子會(huì)吸收能量并發(fā)射出特征性的次級(jí)X射線信號(hào)。通過(guò)分析這些熒光的能量與強(qiáng)度，就能準(zhǔn)確判斷樣品中各元素的種類(lèi)與含量。 簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，ED-XRF光譜儀是一種“非破壞式元素分析技術(shù)”，可快速檢測(cè)金屬、合金、礦石、土壤、塑料等材料的成分組成。